***上层

远红外发射率测试仪

发布时间: 2017-06-08 17:00   4181 次浏览

仪器名称

远红外发射率测试仪

英文名称

Far infrared emissivity tester

型号

Japan sensor corporation TSS-5X

技术指标

测量波长:222μm
测量范围:发射率0.011.00

尺寸:≥Φ4cm

测量距离:12mm

额定误差:±0.01以内

响应时间:1s 由记录器输出
数值显示:LED数字显示,两位小数
记录器输出:00.1V01V Full-Scale
环境温度:1045
环境湿度:3585%(没有露珠)

应用领域

该仪器主要用于军事装备的红外隐身、建材、纸张、纺织、陶瓷、保健品、无机粉末等行业对材料远红外发射率的测量研究。

功能特色

测试速度快,数据******,不破坏样品。


  详情咨询  

电话:028-6577263817778390764

Q Q:1732343448