仪器名称

扫描电子显微镜（SEM）

英文名称

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型号

Hitachi S-3400N

技术指标

分辨率： 30 kV，3.0 nm(高真空模式)

背散射电子分辨率：30 kV，4.0 nm(高真空模式). 

放大倍率: ×5~ ×300,000. 

加速电压:0.3 - 30 Kv.

应用领域

材料，粉体，矿物粒径大小，表面断面形貌分析, 填料分散状态复合材料结构, 材料晶型分析晶粒大小,材料物相分析。元素定性分析。

功能特色

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