仪器名称

透射电子显微镜（TEM）

英文名称

FE-TEM

型号

荷兰fei TecnaiG2F20S

技术指标

加速电压: 200 KV 电子枪：肖特基热场发射 TEM点分辨率：0.25nm TEM信息分辨率: 0.12 nm STEM分辨率: 0.16 nm 样品倾斜角度X/Y：±30o 能谱能量分辨率：136 ev 元素检测范围：B～U元素

应用领域

对各种材料内部微结构进行观察；粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察；选区电子衍射和晶体结构分析；金属、陶瓷、半导体、塑料、等显微结构分析；配合能谱仪可以对样品元素做面分布分析，以及各种元素进行定性和半定量微区分析；元素检测范围：B～U元素

功能特色

分辨率比较高，且配置比较全面: 热场发射灯丝，点分辨率0.24nm，配有EDAX能谱仪和STEM部件，2009年又配置了HAADF探头和可直接采集电子衍射花样的CCD。实验效率高，一次实验可完成高分辨像，电子衍射花样采集，以及HAADF暗场像和成分分析等，其中成分分析包括EDS能谱结合STEM的成分面分布和线分布分析等