仪器名称

X射线衍射仪（XRD）

英文名称

X-Ray Diffractometer

型号

日本理学S2

技术指标

zui大功率：9kw (45kV, 200mA)

theta/2theta 轴zui小步距0.0002°

theta/2theta 角度范围3°-140°,

In-plane测试台；多功能样品台；小角样品台；平行光附件。

应用领域

样品的物相分析（定性分析）；晶粒尺寸测定、分析纳米粒度大小及粒径分布；物相定量分析；薄膜物相鉴定，薄膜高温分析测量；纤维或高分子样品的物相、取向度等；织构分析；应力分析

功能特色

此台衍射仪可进行样品物相的定性和定量分析，点参测定、宏观残余应力、晶粒大小和精细结构分析等。该仪器为高功率衍射仪，立式测角仪，样品平放且测试过程中静止不动，所以可以测试粉末样品，块体样品及流态样品；可以测试单晶基片上的薄膜样品及强织构样品；

该仪器配有标准样品台、多功能样品台、小角散射（SAXS）样品台、In-plane样品台等特殊配置，除常规theta-2theta联动扫描测试，还可以进行掠入射测试、摇摆曲线测试、极图测试、侧倾应力测试、SAXS和In-plane等测试；可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换。